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  • 20246-26
    澤攸探針臺:納米科技領域的精準探索者

    在納米科技日益發展的今天,對微觀世界的探索已成為科研和工業領域的重要任務。澤攸探針臺作為納米科技領域的重要工具,以其高精度、高分辨率和廣泛的適用性,成為了科研人員和企業工程師的得力助手。本文將詳細介紹它的特點、技術規格、應用領域及其重要性。一、概述澤攸探針臺是一款高性能納米探針臺,專為納米科學研究提供良好的儀器支持。該探針臺采用了壓電陶瓷驅動技術,具有分辨率高、尺寸緊湊、行程大、操作簡單等特點,能夠在真空環境下進行各種納米精度運動操作。它的應用范圍廣泛,包括納米材料操縱、納米...

  • 20246-21
    Sensofar白光干涉共聚焦顯微鏡:精密測量的革新者

    在精密測量領域,技術的不斷革新推動著行業向前發展。Sensofar白光干涉共聚焦顯微鏡憑借其良好的性能和特殊優勢,成為了行業內的先進者。本文將詳細介紹它的使用優勢,并通過具體數據和特點進行闡述。一、技術融合與創新Sensofar白光干涉共聚焦顯微鏡結合了共聚焦和干涉技術,為用戶提供了測量體驗。該技術無需插拔任何硬件,即可在軟件內自動實現共聚焦、白光干涉和相位差干涉模式的切換,從而使用戶能夠同時享受到共聚焦技術的超高XY向分辨率和干涉技術的亞納米級Z向分辨率及測量重復性的特點。...

  • 20245-29
    UPC獎勵Sensofar的軌跡實現

    UPC獎勵Sensofar的軌跡實現公司獲得了最佳技術型公司或分拆上面的圖片。Terrassa光學和視光學學院院長JoanGispets代表Sensofar接受獎項在著名的UPC(加泰羅尼亞理工大學)2019年研究價值獎的框架內,該獎項認可了大學研究團隊在不同調查模式中的工作,我們公司獲得了該類別的獎項;技術型公司或分拆出來的公司。Sensofar是UPC的第一個衍生產品之一,自成立以來經歷了積極的增長。它與CD6合作森從一開始就與表面計量領域有著悠久傳統的公司競爭(Zygo...

  • 20245-29
    SHARK項目總結和數字演示

    SHARK項目總結和數字演示我們走過了漫長的道路,森發作為財團成員加入了SHARK歐盟項目(由歐盟地平線2020框架計劃的研究和創新資金支持,贈款協議編號768701),目前正接近項目的尾聲。該項目的目的是證明,它可以工業化的激光功能紋理沒有任何特定的添加涂層。在此期間,11個歐洲聯盟合作伙伴(3個研究機構,4個技術提供商和5個市場的終端用戶)共同努力,將我們所有的知識和經驗提供給集團,從而豐富了整個周期中的每個過程。研究機構技術供應商最終用戶在這種情況下,特別是Sensof...

  • 20245-29
    Sensofar與JH Technologies合作,在美國推動計量工業檢測解決方案

    Sensofar與JHTechnologies合作,在美國推動計量工業檢測解決方案JHTechnologies將在美國13個州分銷和支持Sensofar。JHTechnologies,一家的光學和數字成像系統分銷商,最近宣布與先進的表面表征系統制造商Senfaro建立銷售、營銷和服務伙伴關系。這一戰略伙伴關系提供了高分辨率非接觸式三維表面輪廓儀的互補共焦,干涉,變焦,光譜反射計技術。光學輪廓儀已經由Senfar開發用于測量光滑到非常粗糙的表面,并且可以在JHTechnolog...

  • 20245-29
    Sensofar 將于7月在西班牙 Atapuerca 考古挖掘現場助力

    Sensofar將于7月在西班牙Atapuerca考古挖掘現場助力SensofaratAtapuerca作為我們與FundaciónAtapuerca基金會和IPHES(CatalanInstituteofHumanPaleoecologyandSocialEvolution,加泰羅尼亞人類古生態學和社會進化研究所)合作的一部分,我們的同事和專家NataliaBermejo和SaraAguado將于今年7月在挖掘開放季節期間前往Atapuercaarchaeologicals...

  • 20245-29
    全新軟件解決方案:SensoPRO LT

    全新軟件解決方案:SensoPROLTSensofar將開始將最新開發的軟件SensoPROLT推出市場。該軟件主要用于生產和質量控制測量的數據分析,擁有適用于各種應用需求的具體模塊或插件。目前提供的版本專門適用于LED行業,能夠測量臺階高度和粗糙度等標準參數。目前正在開發適用于IC包裝行業的專用模塊,能夠實現BGA凸起、過孔、銅線、耐焊性的測量和固定尺寸分析。此外,還能根據客戶要求針對其他行業需求簡單地個性化定制新的模塊。提供更多簡便、精準的解決方案是Sensofar的關鍵...

  • 20245-28
    全新 Linnik 干涉物鏡

    全新Linnik干涉物鏡Sensofar十分高興地宣布推出可選模塊Linnik干涉物鏡。Linnik物鏡設計用于獲得位于透明材料深處的表面或很難接觸到的表面的干涉圖像。Linnik物鏡的光機械設計包含兩種相同的物鏡——一種是用于參考表面的物鏡,另一種是用于需檢測表面的物鏡。結合兩種明場物鏡提供了各種可能性??梢允褂贸L工作距離(SLWD)物鏡、高數值孔徑物鏡、水浸物鏡或具有傳統干涉儀不具備規格的任何物鏡組。物鏡組可以是兩個50x放大倍率的SLWD,用于測量PSI傾斜表面,例如...

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