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SEM熱電芯片臺可搭配電學測試，兼容型號掃描電鏡，芯片兼容TEM-MEMS原位芯片樣品桿。

PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測量系統可以實現包括原位力/熱耦合、力/光耦合、力/電耦合、力/熱/晶體取向耦合等多場耦合研究。

PicoFemto掃描電鏡原位光電力一體化系統，集成了掃描探針控制單元，可在三維空間內對電學探針與光纖探針進行亞納米級別精度的操縱與定位。

PicoFemto掃描電鏡原位高溫拉伸臺集成了力學拉伸模塊以及高溫環境模塊，可以實現在掃描電鏡中對樣品原位加熱的同時進行拉伸實驗。本產品采用新一代的高溫拉伸方案，加熱臺直接貼緊樣品，保證了溫度的準確度和穩定性。

掃描電鏡原位氣氛加熱環境測量系統將MEMS氣氛環境微腔和加熱模塊集成到掃描電鏡樣品臺上，在掃描電鏡中制造可控的氣氛環境并且可以對實驗樣品原位加熱。

PicoFemto掃描電鏡原位液體-電化學測量系統采用全新的O圈輔助密封設計，攻克了以往原位液體解決方案裝樣困難的問題。