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澤攸ZEM18臺式掃描電子顯微鏡信號采集帶寬高達10M,掃描速度快,視頻模式下實時觀察樣品,無重影、拖影,不錯過每一個細節。兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺(拉伸臺、加熱臺、TEC冷臺等原位測試系統)
▲ 即插即用:用戶可以快速使用,無需復雜的安裝過程。 ▲ 體積小巧:便于放置在普通的實驗臺面上,節省空間。 ▲ 高性價比:預對中鎢燈絲設計,用戶可以自行更換,降低了維護成本。 ▲ 操作簡易:全中文交互界面,簡潔明了,通過鼠標即可完成所有操作。 ▲ 放大倍數:最高放大可達15萬倍,提供優質清晰的圖像。 ▲ 多級防震:無需額外配置減震臺,保證了成像的穩定性。
PicoFemto掃描電鏡原位光電力一體化系統,集成了掃描探針控制單元,可在三維空間內對電學探針與光纖探針進行亞納米級別精度的操縱與定位。
ZEM15原位拉伸-掃描電鏡采用自主研發的鎢燈絲電子槍,加速電壓在1-15kV范圍內連續可調,搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、1000N原位拉伸樣品臺,實現掃描電鏡內的原位拉伸/壓縮/彎曲實驗。