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PRODUCTS CNTER當前位置:首頁產品中心臺式電鏡&臺階儀&原位分析澤攸臺式掃描電鏡澤攸ZEM20臺式掃描電子顯微鏡
澤攸ZEM20臺式掃描電子顯微鏡操作簡便,僅需鼠標即可完成所有操作,一體式聚光鏡,無需手動調節光闌。
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信號采集帶寬高達10M,掃描速度快,視頻模式下實時觀察樣品。
豐富的原位拓展功能,可兼容自研原位電鏡附件(拉伸樣品臺、加熱臺、TEC冷臺等)。
技術參數
產品特點
▲ 真空分隔技術 :采用獨*真空設計,電子槍和樣品倉真空分離,換樣時間小于1min。
▲ 超大樣品倉:提供了更大的樣品存儲空間,方便用戶操作。
▲ 超高分辨率:極限放大倍數達到36萬倍,分辨率4nm@20kV。
▲ 標配減速模式:允許弱導電樣品在不噴金的情況下進行觀察。
▲ 倉內攝像頭:樣品倉內置高清攝像頭,原位實驗時可實時監測樣品原位變化。