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當前位置:首頁產品中心臺式電鏡&臺階儀&原位分析澤攸TEM原位解決方案透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統

透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統

產品簡介

PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統可在電學測量的同時,動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征,大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。

產品型號:
更新時間:2024-11-12
廠商性質:代理商
訪問量:311
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PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量,并可在電學測量的同時,動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征,大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。

透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統在標配的STM-TEM樣品桿上集成低溫環境控制單元,從而實現在透射電鏡中進行原位低溫電學測量的目的。

PicoFemto透射電鏡原位 STM-TEM低溫電學測量系統性能指標

透射電鏡指標:

● 兼容電鏡型號及極靴;

● 可選雙傾版本,雙傾電學測量樣品桿Y軸傾角±25°(同時受限于極靴間距);

● 保證透射電鏡原有分辨率。

電學測量指標:

● 包含一個電流電壓測試單元;

● 電流測量范圍:1 nA-30 mA,9個量程;

● 電流分辨率:優于100 fA;

● 電壓輸出范圍:普通模式±10 V,高壓模式±150 V;

● 自動電流-電壓(I-V)測量、電流-時間(I-t)測量,自動保存。

掃描探針操縱指標:

● 粗調范圍:XY方向2.5 mm,Z方向1.5 mm;

● 細調范圍:XY方向18 um,Z方向1.5 um;

● 細調分辨率:XY方向0.4 nm,Z方向0.04 nm。

低溫參數指標:

● 兼容型號透射電鏡及極靴;

● 全溫區結構分辨率優于0.2 nm;

● 變溫范圍為85 K-380 K,溫度穩定性優于±0.1 K。

產品特色

(1)溫度連續可控,穩定性高;

(2)低溫下可實現對樣品施加應力及電學研究;

(3)穩定性高:輕松獲得大幅度運動中的高分辨像,適用于更廣泛的應用場景和樣品體系;

 (4)很長的壽命:“爪-球"結構探針桿因其結構設計,是皮實耐用的探針桿;

 (5)很低維護成本:設備配套的針尖制備系統可低成本制備針尖耗材。"爪-球“微動結構已實現模塊化量產,維護成本低;

 (6)很大的用戶群:在國內擁有近200個高質量原位用戶,出口到歐美澳等地。每年,用戶會產出大量高質量研究成果。定期組織各類用戶交流活動,搭建學術平臺供用戶交流;

 (7)成熟的技術支持網絡:在安徽、北京、東莞和上海擁有分公司,其他各地擁有若干技術支持網點,24小時提供技術支持。

部分國內用戶

透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統

部分國外用戶

透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統



 

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