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澤攸STM-TEM光電一體測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測量系統可以實現包括原位力/熱耦合、力/光耦合、力/電耦合、力/熱/晶體取向耦合等多場耦合研究。
PicoFemto透射電鏡原位MEMS液體電化學測量系統,采用全新的O圈輔助密封設計,更易封裝液體。