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PRODUCTS CNTER當前位置:首頁產品中心顯微鏡專業應用方案地質薄片自動顯微掃描系統地質薄片自動顯微掃描系統
地質薄片自動顯微掃描系統圖像放大后,依然可清晰觀察到薄片每個部分的顯微細節,可極大拓展偏光顯微鏡的觀察視域,且視域大小可任意變動。通過大視域觀察,方便快速識別鏡下巖石的結構、構造、顯微地質現象和粗大礦物等。
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系統特點及實際案例:
實測案例1
實測案例2
實測案例3