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當前位置：首頁產品中心顯微鏡專業應用方案地質薄片自動顯微掃描系統
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地質薄片自動顯微掃描系統圖像放大后，依然可清晰觀察到薄片每個部分的顯微細節，可極大拓展偏光顯微鏡的觀察視域，且視域大小可任意變動。通過大視域觀察，方便快速識別鏡下巖石的結構、構造、顯微地質現象和粗大礦物等。
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更新時間：2024-11-12
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