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澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統 ,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量

澤攸透射電鏡原位高溫力學測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量。

澤攸MEMS-STM-TEM多場測量系統，原位透射電子顯微鏡實驗系統，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構建一個可控的多場環境（包括力、熱、光、電等）。

地質薄片自動顯微掃描系統圖像放大后，依然可清晰觀察到薄片每個部分的顯微細節，可極大拓展偏光顯微鏡的觀察視域，且視域大小可任意變動。通過大視域觀察，方便快速識別鏡下巖石的結構、構造、顯微地質現象和粗大礦物等。