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當前位置:首頁產品中心顯微鏡專業應用方案測量系統澤攸透射電鏡原位高溫力學測量系統

澤攸透射電鏡原位高溫力學測量系統

產品簡介

澤攸透射電鏡原位高溫力學測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量。

產品型號:
更新時間:2024-11-12
廠商性質:代理商
訪問量:92

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PicoFemto透射電鏡原位高溫力學測量系統

澤攸透射電鏡原位高溫力學測量系統,同時集成了力學測量模塊及MEMS芯片模塊,可以在對樣品1000 ℃加熱的同時進行定量的力學測量。MEMS芯片模塊上可以選擇加熱芯片,也可以選擇電學測量芯片。力學測量模塊可以選擇不同載荷的傳感器,滿足不同實驗需求。

該產品實現了透射電鏡中的高分辨定量原位高溫力學研究。

澤攸透射電鏡原位高溫力學測量系統

性能指標

透射電鏡指標:

● 兼容指*電鏡型號及極靴;

● 部分型號電鏡可選雙傾版本,雙傾電學測量樣品桿Y軸傾角±25°;(同時受限于極靴間距);

力學傳感器指標:

● 最大載荷100 mN(可選0.1 mN、1 mN、10 mN、100 mN);

● 力測量實測噪聲優于5nN(0.1 mN最大載荷時);

● 力測量實測分辨率優于5 nN(0.1 mN最大載荷時);

● 自動測量力-距離曲線,自動保存。

加熱指標:

● 溫度控制范圍:室溫至1000 ℃;

● 溫度準確度:優于5%;

● 溫度穩定性:優于±0.1 ℃。

掃描探針操縱指標:
● 粗調范圍:X方向 1.5 mm,YZ 方向2 mm;
● 細調范圍:XY 方向20 um,Z 方向 10 um;
● 細調分辨率:XY 方向 0.4 nm,Z 方向 0.2 nm。

產品特色

(1)很大力學測量及溫度控制范圍;

(2)多場下的力學研究;

(3)穩定性高:輕松獲得大幅度運動中的高分辨像,適用于更廣泛的應用場景和樣品體系;

(4)很長的壽命



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